石英晶体微量天平,药物和扩展的版本,如石英晶体微量天平与耗散监控,QCM-D,表面敏感的实时技术检测质量在传感器表面纳米级分辨率的变化。从本质上讲,这些工具是很小的质量平衡和molecule-surface交互检测质量的变化,即大规模吸收或质量损失,如分子吸附或使解除吸附。
除了质量的变化,QCM-D还捕获能量损失的变化。这个附加信息提供了洞察的粘弹性性质被研究,可以揭示系统结构以及结构变化,如肿胀、交联、崩溃,在传感器表面的分子层。
药物在短暂的历史
在早期,QCM-technology被用来监测薄膜气相沉积和真空环境。几年后,它被介绍给使用液相。这个打开表面相互作用的分析,例如,生物分子和聚合物,通常形成软,和/或厚层在传感器表面。在这种类型的测量,延长药物:年代,测量能量损失,已被证明是特别有用,因为能量损失的信息可以帮助分析和量化的粘弹性层。
测量质量
为了从检测到的频率变化,Δf质量的量化数字,转换是必要的。频率和质量之间的关系在1959年首次被冈瑟索尔布雷和导致所谓的索尔布雷关系。这一发现导致了QCM-technology的诞生。
量化的软层
粘弹性模型是可能的,甚至知道它实际上是需要的,我们需要的信息系统中的能量损失,所谓的耗散。捕获的能量损失是与扩展的药物:如QCM-D。即。,in contrast to standard QCM, that captures one parameter, Δf,作为时间的函数,QCM-D技术捕捉两个参数,Δf和ΔD,作为时间的函数。