你能做什么

  • 确定分子取向。SPOT通过观察表面电位的变化,并将数据与表面压力信息结合起来,提供有关分子取向的信息。
  • 深入观察朗缪尔层相互作用。单靠表面压力等温线无法分离表面压力变化的原因。与SPOT相结合,从该层收集的数据增加了一倍,从而深入了解该层。
  • 确定有效偶极矩。该传感器可以通过简单的压缩薄膜表面电位测量来确定有效偶极矩。
  • 表征薄膜的电子结构。分子电子结构的微小变化可以通过测量表面电位的变化来检测。
  • 描述分子结构。通过位置偏移和表面电位图的峰值来量化变化对分子结构的影响。
  • 监测复杂地层。观察和跟踪单分子层、亚相或吸附物之间的复杂地层。

投资的3个理由

数据加倍

表面电位传感器由KSV NIMA LB软件操作,不需要任何额外的软件。表面压力和表面势自动绘制在同一图形中,以便进行简单比较。双倍的数据量-所有在一个软件。

准确和可重复的测量

非接触和无损振动板电容器方法确保了良好的准确性和再现性。

易于设置

该仪器直接连接到KSV NIMA L&LB槽使用的接口单元。它很容易安装,只需简单的即插即用操作。该传感器具有灵活的支架,可以快速轻松地与槽集成。此外,传感器经过工厂校准,可快速启动。

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产品详细说明

KSV NIMA表面电位传感器用于确定朗缪尔薄膜中的分子取向变化。与所有KSV NIMA Langmuir和Langmuir- blodgett槽中包含的表面压力传感器一起,它提供了Langmuir单层相互作用的深入视图。

该仪器测量薄膜上下的电位差,并对所有单独偶极矩的总和敏感。表面电位的变化是通过检测振动板之间的电位差来测量的,振动板位于单层之上,而对电极则浸入单层之下的亚相中。

该传感器可以补充从Langmuir和Langmuir- blodgett槽获得的表面压力区域等温线测量数据。它允许确定单层组成,分子取向,分子离解程度和分子在界面上的相互作用。

表面电位传感器推荐与KSV NIMA Langmuir和Langmuir- blodgett或显微镜槽一起使用,以实现表面压力和表面电位的联合测量。SPOT也可以与其他槽一起使用KSV NIMA接口单元。

KSV尼玛现货规格

测量

输入范围

-5V到+5V

灵敏度

+ / - 1 mv

高度依赖

10 mv /毫米

响应时间

与距离成正比但小于1s时
位于单层膜上方1毫米处

校准

工厂校准

硬件

测量头尺寸

100年x85x20mm

探头直径

16毫米

底座高度

19毫米

最大传感器高度

160毫米

对极板尺寸

35 x50x2mm

垂直电极臂长

20毫米